高分辨率场发射扫描电子显微镜（SEM）的测试周期通常为3-5个工作日，也就是王杭他们正在做的实验。
但传统的高分辨率扫描电子显微镜直接对样品进行观察的话，需要的时间就很短了。
屏幕上，扫描绘制的图像很快就映入了徐川的眼帘。
这是一张杂乱的图片，有类似于葡萄串一样结构，也有水晶尖组成的山峰，还有类似于人体骨骼一样的块状结构。
而最为突出的，无疑是这些杂乱结构中，那横穿了小半个界面的整体碳纳米管结构！
传统的碳纳米管材料，无论是哪一种，在电子显微镜下，它都是杂乱密集的。
如果硬要说，用那种黑人的卷曲头发来形容会很合适。
杂乱，卷曲，互相交织在一起，感觉就像是十几年没有洗过头，梳过头发一样。
而面前这块材料中的碳纳米管，却像是江南女子的长发一般顺滑平直。
它们在材料中紧密有序的排列组合，构成了类似于硅基芯片中集成晶体管的结构。
如果是在芯片上，材料研究所这边就可以通过简单的电路实验来对这些整齐排序的碳纳米管进行测试，看看它们是否具备半导体门路的特征。
内容未完，下一页继续阅读